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场发射扫描电子显微镜 -
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场发射扫描电子显微镜 -
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场发射扫描电子显微镜
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规格型号 | Merlin Compact |
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所属类别 | 专用 |
制造厂商 | ZEISS |
生产国别 | 德国 |
购置日期 | 2015-03-01 |
服务方式 | 委托服务 |
服务领域 | 新材料,机械,冶金 |
功能/应用范围 | 1.表面缺陷形貌分析; 2.断口形貌分析; 3.能谱点扫元素成分分析; 4.能谱线扫元素成分分析; 5.能谱面扫元素成分分析。 |
主要技术指标 | 1.FESEM放大倍数:35×~1000000×; 2.EDS可检出元素:Be4~Cm96。 |
技术服务内容 | 1.表面缺陷形貌分析; 2.断口形貌分析; 3.夹杂物分析; 4.能谱点扫元素成分分析; 5.能谱线扫元素成分分析; 6.能谱面扫元素成分分析。 |